EDS
Realizada no mesmo equipamento de MEV (Phenom ProX), a EDS utiliza o detector SDD (Silicon Drift Detector) integrado para coletar raios-X característicos emitidos pela interação do feixe de elétrons com a amostra. Permite identificação e quantificação elementar por análise pontual, perfil linear ou mapeamento de área — sem necessidade de preparação adicional da amostra em relação ao MEV. Indicada para verificação de composição em cerâmicas, metais e compósitos.
